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品牌 | Mettler Toledo/梅特勒托利多 |
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梅特勒MS205DU双量程微量分析天平
梅特勒MS系列(MS105DU,MS205DU)双量程(0.1mg,0.01mg)微量电子天平的基本特征:
无论是简单的日常工作,还是复杂的称量程序,NewClassic MS半微量天平将的性能和提高生产力进行了*的结合,这一切都来源于快速的稳定时间以及一贯的可靠结果。
HCD (High Contrast Display)
全自动校准技术(FACT)
保护罩(终端)
保护罩
Below weighing hook for weighing below the balance
高分辨率称量单元(HRT)
Overload Protection
Built in Date and Time function
SmartTrac shows the entire weighing range
Programmable 3 SmartKeys for shortcut access to applications
Protection of main balance configuration
精确称量采用梅特勒-托利多高分辨率称量技术(HRT),内置两组砝码。配合全自动校准技术(FACT),确保天平自动完成校正和线性化。
高效处理,减少每次称量过程必须的操作步骤。左右手互换开关门(ErgoDoor),实现一只手打开防风罩的同时,另一手进行加样。节约空间,折叠式玻璃防风门,为您节约了使用空间,避免凸出天平以外。天平背部的通讯接口可从侧面进行连接。易于清洁,天平清洁从未如此方便:通过防风罩锁定装置QuickLock)拆卸防风罩,仅需几个步骤,并且所有防风罩玻璃和承水盘均可放入洗碗机清洗。
梅特勒MS系列(MS105DU,MS205DU)双量程(0.1mg,0.01mg)微量电子天平的基本参数:
zui大称量范围 可读性
MS105 半微量天平 120 g 0.01 mg
MS105DU 半微量天平 42 g / 120 g 0.01 mg / 0.1 mg
MS205DU 半微量天平 82 g / 220 g 0.01 mg / 0.1 mg
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